Acasa >> Produse >>Aparatura Stiintifica>> Analizoare Elementale

Fluorescenta cu raze X

Sistemele XGT HORIBA ofera analize de inalta performanta prin tehnica fluorescentei de raze X cu dispersie de energie.
Tehnologia XGT patentata (Tub Ghidaj raze X ) combina metodologia traditionala a fluorescentei de raze X cu analiza micronica. Fasciculele de raze X cu energii mari si diametre cuprinse intre 3 mm si 10 µm ofera capabilitati de analiza versatile.
Sunt posibile atat analize cantitative cat si calitative, chiar si pe particule microscopice individuale, in timp ce maparea confera imagini ale distributiei elementale detaliate.

APLICATIILE care beneficiaza de tehnologia fluorescentei cu raze X dezvoltata de Horiba includ:

– Criminalistica
– Geologie
– Stiinta materialelor
– Biologie/ Medicina
– Electronice
– Arheologie
– Farmacologie
– Testari pentru complianta cu RoHS/ELV.

Analiza micro-XRF

Micro-analizoarele cu fluorescenta de raze X XGT combina analiza elementala non distructiva cu abilitatea de analiza individuala a particulelor cu dimensiuni de pana la 10 µm. Scanarea automata a probelor confera imagini detaliate ale distributiei elementale pentru arii de pana la 10 cm x 10 cm.
Nici o alta tehnica nu ofera informatii atat de detaliate intr-un mod atat de simplu. Masuratoarea poate incepe imediat ce proba este plasata pe suport. Vizualizarea optica, de transmisie si elementala sunt imbinate si insotite de timpi de achizitie foarte mici.

Microscop analitic cu raze X XGT-7200 X

xgt7000_06
XGT-7200 reprezinta o generatie noua de microscoape XRF aducand noi performante cercetarii stiintifice. Combina observarea optica cu functii de analiza elementala, revolutionand lumea micro-analizei si devenind un instrument de rutina in analiza stiintifica.

Caracteristicile hardware unice ofera versatilitate si flexibilitate sistemului pentru fiecare masuratoare. Se poate face selectia prin software intre 2 tuburi de ghidaj a razelor X, cu diametre de la 1,2 mm pana la diametrul unic de 10 µm, facand sistemul ideal atat pentru masuratori macro cat si micro. Similar, prin capacitatea duala de selectie a vidului este posibila schimbarea in cateva secunde de la modul de vid complet pentru sensibilitate inalta la modul de vid localizat pentru versatilitate. Cel de-al doilea mod mentine probele la presiune atmosferica asigurand si sensibilitatea pentru toate elementele cuprinse intre sodiu si uraniu.

ANALIZA PUNCTUALA SI MULTI-PUNCT
RTEmagicC_xgt700geologymaps.gif
Analizele intr-un singur punct sau cele multi-punct automate permit achizitia de spectre de inalta rezolutie. Peak-urile elementale sunt localizate si etichetate automat iar analiza cantitativa are o precizie la nivelul ppm prin metoda FPM sau calibrare cu standarde. De asemenea se pot calcula grosimile straturilor (nm – µm) si pentru structuri multistrat.

ANALIZA MAPARE HIPERSPECTRALA
RTEmagicC_xgt700singlepoint.gifSoftware-ul de imagistica SmartMap inregistreaza intregul spectru EDXRF pentru fiecare pixel al imaginii elementale, permitand generarea si compararea spectrelor post-achizitie si generarea de spectre din diferite regiuni ale imaginii definite de utilizator pentru caracterizare cantitativa si calitativa.
Imaginile de transmie a razelor X ofera o viziune suplimentara asupra structurii probei, relevand structuri invizibile ochiului liber.

CARACTERISTICI
Caracteristicile unice ale XGT-7200 au facut ca acest sistem sa fie integrat cu succes in multe aplicatii precum cele electronice, analiza reziduurilor auto, criminalistica, geologie, mineralogie, farmaceutica, muzeologie, metalurgie, biologie, medicina si arheologie.
Sistemul micro-XRF XGT-7200 acopera totul de la macroanaliza pana la inspectarea specifica a ariilor micronice cu imagistica simultana XRF si transmisie.

RTEmagicC_narrowbeam.jpg

– Rezolutie spatiala inalta
Tehnologia unica a tuburilor de ghidaj a razelor X ofera analizele XRF cu cea mai buna rezolutie spatiala, cu diametre ale razelor X de pana la 10 µm. Fasciculele inguste de mare intensitate permit analize rapide si non-distructive ale caracteristicilor microscopice.

RTEmagicC_perpendicular.jpg
– Imagistica transmisie raze X
In combinatie cu imagistica XRF, XGT-7200 permite inregistrarea imaginilor de transmisie. Acestea pot fi efectuate pentru analize structurale interne si identificarea regiunilor de interes care nu sunt vizibile ochiului. Scanarile sunt facute cu un fascicul perpendicular ingust rezultand imagini clare, chiar si pentru probe care nu sunt plane, precum cele cilindrice.

RTEmagicC_vacuum.gif
– Mod vid dual
Sistemul XGT-7200 ofera modul dual de vidare pentru analiza probelor, comutarea intre cele doua moduri facandu-se in cateva secunde. In modul de vid integral este vidata integral camera probei pentru a asigura cea mai buna sensibilitate pentru elementele usoare. In modul de vid partial proba este mentinuta la presiune atmosferica iar vidul este asigurat in jurul detectorului si opticii capilare. Acest mod este ideal prentru probele care contin apa precum cele biologice si obiecte arheologice fragile.

RTEmagicC_macro.gif
– Domeniu extins al dimensiunilor probelor
Camera adaptabila a probelor permite analiza unei game variate de probe, de la analiza punctuala cu fascicul de 10 µm pentru caracteristici microscopice pana la mapari pentru suprafete de pana la 10cm x 10cm.

xgt7000_software
– Software integrat pentru achizitia de date si analiza
Software-ul intuitiv permite controlul facil al instrumentului, vizualizarea rapida a probei si selectarea regiunii de masurare, precum si analiza completa a datelor. Functiile includ detectia automata a peakurilor, determinari cantitative, generare de imagini compuse RGB, analiza profilelor liniilor.

SPECIFICATII

– XGT-7200

– Elemente:
– Na pana la U

– Tub Raze X:
– tinta Rh
– Voltaj tub 50kV
– Curent tub 1mA

– Detector fluorescenta raze X:
– SDD

– Detector transmisie raze X:
– scintilator NaI(Tl)

– Tub ghidaj raze X:
– Monocapilar 10μm
– 100μm fara filtru

– Imagine optica:
– Imagine optica a intregii probe si imagine cu marire coaxiala

– Platforma proba:
– XY : 100mm×100mm

– Camera probei:
– Model camera vid
– Max 300mm×300mm×80mm in vid

– Procesare semnal:
– Procesor digital pulsuri ( unitate INCA )

– Analiza calitativa:
– Auto identificare
– Marker KLM
– Cautare peak
– Comparare spectre

– Analiza cantitativa:
– Non standard FPM
– Standard FPM
– Curba calibrare
– FPM multistrat
– Analiza multi punct (Max5000)
– Vizualizare spectre XGT-5000

– Functii mapare:
– Imagini raze X transmisie
– Imagine elementala
– Mapare spectrala
– Generare spectre
– Compozitie RGB
– Analiza liniara

– Alte functii:
– Posibilitatea de a porni simultan software-ul XGT-5200.

Sus

Analizoare RoHS si ELV

Directivele mondiale RoHS, WEEE si ELV specifica limite stricte in continutul de plumb, cadmiu, mercur, crom hexavalent, bifenili polibromurati si eteri bifenili polibromurati in materiale utilizate in bunuri electrice de consum si in industria auto.
Fluorescenta de raze X este tehnica indicata pentru supravegherea si evaluarea partilor si materialelor produse. Timpii de analiza sunt de regula de ordinul catorva minute, suficient pentru sensibilitatea necesara concentratiilor de sub 100 ppm (0.01%).
Sistemele XGT asigura limite de detectie de pana la 2 ppm (0.0002%). Un fascicul standard de analiza de 1.2 mm permite chiar si analiza individuala a componentelor electronice mici.

Analizor cu raze X MESA-50

019fb04933
HORIBA a comercializat seria sistemelor EDXRF XGT-WR timp de mai multi ani pentru screeningul probelor ce contin elemente periculoase precum Pb, Cd, Hg, Cr, Br, Sb, As pentru RoHS, ELV, si Cl pentru aplicatii fara halogeni.

28251f33a2
Sistemele XGT sunt utilizate zilnic in intreaga lume. HORIBA a dezvoltat noul analizor EDXRF MESA-50 bazandu-se pe lunga experienta de cercetare si relatii cu clientii. MESA-50 aduce performanta si operare facila. MESA-50 include trei diametre de analiza, potrivite pentru orice tip de proba, de la cabluri subtiri pana la probe voluminoase. Combinatia intre detectorul SDD si DPP schimba imaginea avuta pana acum de EDXRF.

36ed6aead4
Noul MESA-50 produs de HORIBA suporta achizitiile ecologice; contribuie nu doar la evaluarile de complianta EU RoHS si ELV, dar si la evaluari regulatorii din alte tari.

CARACTERISTICI

1. Rapid
– Detectorul SDD reduce drastic timpul de masurare, asigurand in acelasi timp sensibilitate crescuta.

2. Mic
– Portabil, amprenta mica
– Baterie interna

3. Simplu
– Reduce rutina mentenantei (operare fara LN2)
– Nu necesita pompe de vid
– Masuratori simple si intuitive pentru toate tipurile de materiale.

4. Inteligent
– Interfete facile Engleza / Japoneza / Chineza
– Excel® pentru managementul datelor

5. Sigur
– Fara emisie externa de raze X

Sus

APLICATII: aici

TUTORIAL: aici

GALERIE IMAGINI: aici

Sus